Анализ на отказите

Услугите за подготовка на проба на FIB-ниво за усъвършенстван процес и TEM анализ осигуряват прецизна подготовка на проба и решения за структурен анализ за усъвършенствани технологични чипове чрез

GRGTEST Metrology предоставя професионални услуги за анализ с двоен-лъчев фокусиран йонен лъч (DB-FIB). Популярните услуги за тестване включват TEM пробни секции за усъвършенствани процеси (14 nm и

Трансмисионната електронна микроскопия (TEM) се превърна в незаменим аналитичен инструмент в областта на материалите и полупроводниците. Това е електронен оптичен инструмент, който използва

Оборудването за разцепване на пластини и SEM услугите за изображения са ключови технологични опори за материалознанието, електронната индустрия и биомедицинските изследвания и са особено подходящи за

Микроскопът за атомна сила Bruker Dimension ICON6 поддържа 12 режима, включително контакт, потупване и потупване при пикова сила, за да отговори на нуждите от тестване на различни проби и да

EDS означава Енергиен дисперсивен спектрометър, който е рентгенов енергийно-дисперсивен спектроскопски метод за анализ. Неговият принцип се основава на факта, че различни елементи излъчват характерни

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching

GRGTEST разполага със софтуерни и хардуерни решения за FT на едно гише и може да предостави на клиентите пълна гама от услуги, включително оценка на тестова технология, разработване на тестово

GRGTEST е установил цялостни възможности за анализ на материалите, анализ на физическите характеристики, функционално тестване на производителността, проверка на надеждността, анализ на отказите и

В съвременните комуникации и центрове за данни оптичната комуникация стана незаменима поради своите предимства на висока скорост, голям капацитет и предаване на-разстояния. Приложението на оптични

ESD (електростатичен разряд) тест-на ниво на чип е тест за надеждност на интегрални схеми (IC), използван за оценка на способността на чипа да устои на смущения от електростатичен разряд по време на

Тази услуга, в съответствие със стандарта GB/T 40432-2021, провежда 7 категории и 20+ екстремни тестове на бордови зарядни устройства (OBC), включително температурни цикли (-40 градуса до 85